X-ray and Image Analysis in Electron Microscopy
- Autor*in: Schülein, Thomas
- Verlag: Westarp Book On Demand
- ISBN:978-3-86460-674-8
- Softcover
- 3. Auflage von 2017
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Über den Titel
This book provides the reader with a discussion of X-ray microanalysis and imaging techniques. It is meant to be an introduction for newcomers to the fields and a reference for experienced microscopists. This third edition has been largely rewritten, reflecting the huge advances in hardware and software technology. Table of contents: I. Introduction II. Electron-specimen interaction and X-ray generation III. X-ray measurement IV. Qualitative analysis V. Quantitative analysis VI. Precision and accuracy VII. Operating conditions in the microscope VIII. Digital imaging: Processing and image math IX. Image and feature analysis X. X-ray maps and line scans XI. Application examplesEigenschaften
Seitenzahl | 118 |
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Bindung | Softcover |
Auflage | 3. Auflage von 2017 |
Sprache | Englisch |
Abmessungen (BxH): | 216 x279 mm |
Gewicht: | 580 g |
Erscheinungsdatum: | 17.04.2017 |